전기전자 > 콘덴서테스터
 
  콘덴서 테스터 3504-40  
C, D (tanδ) 측정
적층 세라믹 콘덴서의 측정
측정 주파수 : 120Hz,1kHz
측정 시간 : 2ms
RS-232C 표준 장비
 
 
  콘덴서 테스터 3504-50  
C,D (tanδ) 측정
적층 세라믹 콘덴서의 측정
BIN 측정
측정 주파수 : 120Hz,1kHz
측정 시간 : 2ms
RS-232C,GP-IB 표준 장비
 
 
  콘덴서 테스터 3504-60  
C,D (tanδ) 측정
적층 세라믹 콘덴서의 측정
BIN 측정
접촉(contact) 체크 기능
측정 주파수 : 120Hz,1kHz
측정 시간 : 2ms
RS-232C,GP-IB 표준 장비
 
 
  콘덴서 테스터 3505  
C, D (tanδ), Q 측정
저용량 콘덴서의 측정
측정 주파수 : 1kHz, 100kHz, 1MHz
측정 시간 : 2ms
RS-232C, GP-IB 표준 장비
 
 
  콘덴서 테스터 3506  
C, D (tanδ), Q 측정
저용량 콘덴서의 측정
측정 주파수 : 1kHz, 1MHz
측정 시간 : 2ms
RS-232C, GP-IB 표준 장비
 
 
  콘덴서 테스터 3501  
C(커패시턴스) 측정
측정 전압 : DC 4V
충전 시간 측정 방식
아날로그 미터
 
 
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